冠亞研發(fā)的CHILLER氣體制冷系列，涵蓋LQ、AI、AES、AET四大品類，以干燥壓縮空氣、氮?dú)?、氬氣等無腐蝕性氣體為溫控介質(zhì)，依托復(fù)疊制冷與gao效換熱技術(shù)，實(shí)現(xiàn)-105℃至+125℃的寬溫域控溫，可jing準(zhǔn)適配半導(dǎo)體測試全流程的溫控需求，為半導(dǎo)體測試提供穩(wěn)定、可靠的氣體溫控支持，適配探針臺(tái)、測試腔體、分選臺(tái)等多種測試設(shè)備。

在半導(dǎo)體芯片電性能測試中，該系列設(shè)備可提供jing準(zhǔn)低溫氣體，控制測試環(huán)境溫度，避免溫度波動(dòng)影響芯片電學(xué)參數(shù)，保障測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。半導(dǎo)體芯片的電學(xué)特性對(duì)溫度min感，不同測試環(huán)節(jié)需不同溫度區(qū)間的氣體支持，冠亞CHILLER氣體制冷系列可根據(jù)測試需求，靈活調(diào)節(jié)氣體溫度，適配-40℃至-105℃的不同低溫測試場景，覆蓋常規(guī)測試與ji端環(huán)境測試需求。

在半導(dǎo)體器件老化測試中，該系列設(shè)備可模擬芯片在ji端溫度環(huán)境下的運(yùn)行狀態(tài)，為老化測試腔體提供穩(wěn)定低溫氣流，加速芯片老化過程，助力篩選早期失效器件，為芯片可靠性評(píng)估提供數(shù)據(jù)支撐。其全密閉氣路設(shè)計(jì)可防止外界雜質(zhì)污染氣體介質(zhì)，保障測試環(huán)境的潔凈度，避免雜質(zhì)對(duì)半導(dǎo)體器件造成損傷，適配半導(dǎo)體器件的高精度測試要求。

在半導(dǎo)體晶圓測試環(huán)節(jié)，冠亞CHILLER氣體制冷系列可對(duì)晶圓測試平臺(tái)進(jìn)行jing準(zhǔn)溫控，維持晶圓測試過程中的溫度穩(wěn)定，確保光刻、刻蝕等相關(guān)測試環(huán)節(jié)的工藝一致性。設(shè)備采用二次過冷技術(shù)，制冷響應(yīng)速度快，可在短時(shí)間內(nèi)將氣體降至目標(biāo)溫度，滿足測試過程中快速溫變的需求，同時(shí)控溫精度可達(dá)±0.1℃，有效減少溫度偏差帶來的測試誤差。

此外，該系列設(shè)備適配半導(dǎo)體測試的連續(xù)運(yùn)行需求，支持24小時(shí)不間斷工作，氣體換熱系統(tǒng)耐壓可達(dá)20bar，適配高壓氣體測試工況。不同品類可針對(duì)性適配不同測試場景，LQ系列適配常規(guī)測試溫控，AI系列適配高精度控溫測試，AES系列適配快速溫變測試，AET系列適配定制化測試需求，quan方位覆蓋半導(dǎo)體測試的多樣化溫控需求，為半導(dǎo)體測試工作的有序開展提供保障。

AET高速光模塊熱流儀

適用范圍 運(yùn)用于半導(dǎo)體測試平臺(tái)的高低溫測試。電子設(shè)備高溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩础?非接觸測試:避免機(jī)械接觸對(duì)模塊的壓力，更適合某些精密或特殊封裝模塊;熱場均勻:流動(dòng)空氣包裹模塊，溫度梯度小;無磨損風(fēng)險(xiǎn):沒有接觸式TEC的反復(fù)壓接磨損問題;設(shè)備小5，方便移動(dòng)，插電即用;可與測試機(jī)進(jìn)行高度交互，可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號(hào)) 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features 產(chǎn)…

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精密恒溫恒濕機(jī)組

冠亞恒溫LNEYA精密恒溫恒濕機(jī)組，超精密空調(diào)是?種能精準(zhǔn)控制環(huán)境溫、濕度的空?調(diào)節(jié)設(shè)備，提供兩款設(shè)備型號(hào)，常規(guī)水冷款和迷你型風(fēng)冷款。機(jī)組采??品質(zhì)潔凈型?機(jī)、潔凈型箱體、?藝，避免?次環(huán)境污染

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KRY系列冷熱控溫控流量系統(tǒng)

適用范圍 測試的物件連接到一個(gè)測試平臺(tái)適配器上，部件內(nèi)部通過乙二醇水溶液來冷卻和加熱測試。測試部件需要經(jīng)歷一個(gè)特定的溫度變化曲線，并且記錄溫度的變化。溫度變化的范圍通常從-40到100度。（可擴(kuò)展到150度）進(jìn)行耐受性測試時(shí)，通常會(huì)循環(huán)進(jìn)行。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter KRY -20℃～+100℃

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KRY系列多通道水冷機(jī)Chiller

適用范圍 測試的物件連接到一個(gè)測試平臺(tái)適配器上，部件內(nèi)部通過乙二醇水溶液來冷卻和加熱測試。測試部件需要經(jīng)歷一個(gè)特定的溫度變化曲線，并且記錄溫度的變化。溫度變化的范圍通常從-40到100度。（可擴(kuò)展到150度）進(jìn)行耐受性測試時(shí)，通常會(huì)循環(huán)進(jìn)行。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter 一拖六系列-20℃~+100℃（溫度六組一致，壓力/流量可獨(dú)立…

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KRY變頻系列新能源冷水機(jī)

適用范圍 采?變頻渦旋壓縮機(jī)，根據(jù)實(shí)際需求?動(dòng)調(diào)整運(yùn)轉(zhuǎn)速度，提供所需的制冷能?，與傳統(tǒng)的定頻壓縮機(jī)相?，顯著降低能源消耗，提?能效性能。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter

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電機(jī)測試用油冷卻系統(tǒng)

適用范圍 測試的物件連接到一個(gè)測試平臺(tái)適配器上，部件內(nèi)部通過乙二醇水溶液來冷卻和加熱測試。測試部件需要經(jīng)歷一個(gè)特定的溫度變化曲線，并且記錄溫度的變化。溫度變化的范圍通常從-40到100度。（可擴(kuò)展到150度）進(jìn)行耐受性測試時(shí)，通常會(huì)循環(huán)進(jìn)行。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter

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KRY直冷直熱機(jī)組

適用范圍 設(shè)備可以滿?直冷/直熱?于電池包及整?的試驗(yàn)及測試。主要?于制冷量和制熱量的測試，采?變頻壓縮機(jī)，輸出可調(diào)；采?變頻?機(jī)，轉(zhuǎn)速散熱量可調(diào)；配合?精度溫度、壓?、流量傳感器以及?帶軟件，可實(shí)時(shí)計(jì)算換熱能?，?動(dòng)回收加注制冷劑等功能?？蓾M?不同??電池包。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter

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LQ系列氣體冷卻裝置

適用范圍 應(yīng)?于將?體（?腐蝕）降溫使?：如?燥壓縮空?、氮?、氬?等常溫?體通?到LQ系列設(shè)備內(nèi)部，出來的?體即可達(dá)到?標(biāo)低溫溫度，供給需求測試的元件或換熱器中。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter

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AI系列循環(huán)風(fēng)系統(tǒng)

適用范圍 運(yùn)?于半導(dǎo)體設(shè)備?低溫測試。電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩?；?dú)?的制冷循環(huán)?機(jī)組；可連續(xù)?時(shí)間?作，?動(dòng)除霜，除霜過程不影響庫溫； 模塊化設(shè)計(jì)，備?機(jī)替換容易（只要?臺(tái)備?機(jī)組即可）；解決頻繁開關(guān)?，蒸發(fā)系統(tǒng)結(jié)霜問題；蒸發(fā)系統(tǒng)除霜過程不影響。構(gòu)筑?套?低溫恒溫室變的簡單（根據(jù)提供的圖紙，像搭積??般拼接好箱體，連接好電和?，設(shè)定好溫度即…

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AES系列熱流儀

適用范圍 射流式?低溫沖擊測試機(jī)給芯?、模塊、集成電路板、電?元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。是對(duì)產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ?? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter

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